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    紡織

    CT  電腦斷層掃描

     CT  電腦斷層掃描



    產品說明

    Rigak CT Scan 電腦斷層掃描儀可分為桌上型及落地型兩種。桌上型安裝容易,且場地要求少。落地型則擁有更強大的穿透力與更寬廣的掃描空間,專門針對高密度材料、大型零件及失效分析所設計。其可應用於工業與先端製造、材料科學研究、能源與地質應用。

    應用範疇


    結構判別、成分分布
    尺寸量測,包含個數計算、體積、面積、周長、長寬比和方
    缺陷分析,例如孔隙率、異物率
    自動統計及分佈圖表
    組裝分析、壁厚分析、材料分析
    逆向工程、CAD 對比
    特徵篩選、三維個體定位、模型模擬
    二維/三維可視化、分析材料表徵
    結果透過電子表格工具和圖表顯示呈現



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    毒品爆裂物檢測

    手持式拉曼光譜分析儀

    手持式拉曼光譜分析儀



    產品說明

    Rigaku手持式拉曼光譜儀可透過拉曼訊號進行成分鑑定,廣泛應用於塑膠原料與化學成分檢測、以及如PC、 PP 、PVC、PE、PET等資源回收之快速鑑定。操作方便,且有獨家1064 nm波⾧,提升分析速度、種類,大幅降低螢光干擾,並可達95%以上鑑別成功率。可應用於食品、農藥殘留檢測以及藥物分析,也可以做化妝品、毒品檢測。
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    製藥與化妝品

    手持式拉曼光譜分析儀

    手持式拉曼光譜分析儀



    產品說明

    Rigaku手持式拉曼光譜儀可透過拉曼訊號進行成分鑑定,廣泛應用於塑膠原料與化學成分檢測、以及如PC、 PP 、PVC、PE、PET等資源回收之快速鑑定。操作方便,且有獨家1064 nm波⾧,提升分析速度、種類,大幅降低螢光干擾,並可達95%以上鑑別成功率。可應用於食品、農藥殘留檢測以及藥物分析,也可以做化妝品、毒品檢測。
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    電鍍、膜厚檢測(銅箔、鋁塑模、離心紙)

    波長分散式 X 射線螢光光譜儀(WD-XRF)

    波長分散式 X 射線螢光光譜儀(WD-XRF)


     
    產品說明

     

    X射線螢光分析儀(X-ray fluorescence,XRF)是利用X射線照射在分析物質上來進行元素定性和定量的分析技術,此測試方式具有快速、非接觸、非破壞性及多元素分析等特點,無須樣品前處理,無須液態氮充填等運行成本產生,可快速分析檢測樣本,具有多種類型XRF可廣泛應用於各個領之域中。

    WDXRF(波長分散式XRF)儀器具有非常好的能量解析度,可以得到較少的光譜重疊干擾和改善背景的強度,元素偵測範圍從 Be(鈹) ~U(鈾),濃度範圍從低parts-per-million (ppm)至高weight percent (wt%)。
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    電鍍、膜厚檢測(銅箔、鋁塑模、離心紙)

    能量分散式 X 射線螢光光譜儀(ED-XRF)

    能量分散式 X 射線螢光光譜儀(ED-XRF)


     
    產品說明

    X射線螢光分析儀(X-ray fluorescence,XRF)是利用X射線照射在分析物質上來進行元素定性和定量的分析技術,此測試方式具有快速、非接觸、非破壞性及多元素分析等特點,無須樣品前處理,無須液態氮充填等運行成本,可快速分析檢測樣本,具有多種類型XRF可廣泛應用於各個領之域中。

    能量分散式X射線螢光分析儀(EDXRF)廣範地應用在多樣化樣品的定量與半定量元素分析技術上。元素偵測範圍從 Na(鈉) ~U(鈾),濃度範圍從低parts-per-million (ppm)至高weight percent (wt%)。
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    有害物質分析檢測(RoHS)

    波長分散式 X 射線螢光光譜儀(WD-XRF)

    波長分散式 X 射線螢光光譜儀(WD-XRF)


     
    產品說明

     

    X射線螢光分析儀(X-ray fluorescence,XRF)是利用X射線照射在分析物質上來進行元素定性和定量的分析技術,此測試方式具有快速、非接觸、非破壞性及多元素分析等特點,無須樣品前處理,無須液態氮充填等運行成本產生,可快速分析檢測樣本,具有多種類型XRF可廣泛應用於各個領之域中。

    WDXRF(波長分散式XRF)儀器具有非常好的能量解析度,可以得到較少的光譜重疊干擾和改善背景的強度,元素偵測範圍從 Be(鈹) ~U(鈾),濃度範圍從低parts-per-million (ppm)至高weight percent (wt%)。
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    有害物質分析檢測(RoHS)

    能量分散式 X 射線螢光光譜儀(ED-XRF)

    能量分散式 X 射線螢光光譜儀(ED-XRF)


     
    產品說明

    X射線螢光分析儀(X-ray fluorescence,XRF)是利用X射線照射在分析物質上來進行元素定性和定量的分析技術,此測試方式具有快速、非接觸、非破壞性及多元素分析等特點,無須樣品前處理,無須液態氮充填等運行成本,可快速分析檢測樣本,具有多種類型XRF可廣泛應用於各個領之域中。

    能量分散式X射線螢光分析儀(EDXRF)廣範地應用在多樣化樣品的定量與半定量元素分析技術上。元素偵測範圍從 Na(鈉) ~U(鈾),濃度範圍從低parts-per-million (ppm)至高weight percent (wt%)。
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    環境檢測(SRF、飛灰、爐渣、汙泥)

    波長分散式 X 射線螢光光譜儀(WD-XRF)

    波長分散式 X 射線螢光光譜儀(WD-XRF)


     
    產品說明

     

    X射線螢光分析儀(X-ray fluorescence,XRF)是利用X射線照射在分析物質上來進行元素定性和定量的分析技術,此測試方式具有快速、非接觸、非破壞性及多元素分析等特點,無須樣品前處理,無須液態氮充填等運行成本產生,可快速分析檢測樣本,具有多種類型XRF可廣泛應用於各個領之域中。

    WDXRF(波長分散式XRF)儀器具有非常好的能量解析度,可以得到較少的光譜重疊干擾和改善背景的強度,元素偵測範圍從 Be(鈹) ~U(鈾),濃度範圍從低parts-per-million (ppm)至高weight percent (wt%)。
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    環境檢測(SRF、飛灰、爐渣、汙泥)

    能量分散式 X 射線螢光光譜儀(ED-XRF)

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    產品說明

    X射線螢光分析儀(X-ray fluorescence,XRF)是利用X射線照射在分析物質上來進行元素定性和定量的分析技術,此測試方式具有快速、非接觸、非破壞性及多元素分析等特點,無須樣品前處理,無須液態氮充填等運行成本,可快速分析檢測樣本,具有多種類型XRF可廣泛應用於各個領之域中。

    能量分散式X射線螢光分析儀(EDXRF)廣範地應用在多樣化樣品的定量與半定量元素分析技術上。元素偵測範圍從 Na(鈉) ~U(鈾),濃度範圍從低parts-per-million (ppm)至高weight percent (wt%)。
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    光電產業、電池產業應用

    CT  電腦斷層掃描

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    產品說明

    Rigak CT Scan 電腦斷層掃描儀可分為桌上型及落地型兩種。桌上型安裝容易,且場地要求少。落地型則擁有更強大的穿透力與更寬廣的掃描空間,專門針對高密度材料、大型零件及失效分析所設計。其可應用於工業與先端製造、材料科學研究、能源與地質應用。
     

    應用範疇


    結構判別、成分分布
    尺寸量測,包含個數計算、體積、面積、周長、長寬比和方
    缺陷分析,例如孔隙率、異物率
    自動統計及分佈圖表
    組裝分析、壁厚分析、材料分析
    逆向工程、CAD 對比
    特徵篩選、三維個體定位、模型模擬
    二維/三維可視化、分析材料表徵
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    光電產業、電池產業應用

    熱分析儀 TA Thermo plus EVO2

    熱分析儀 TA Thermo plus EVO2



    產品說明

    Rigaku TA 提供各式熱分析儀器已超過10,000台銷售紀錄,擁有熱分析專業技術團隊支援。
    Thermo plus EVO2 系列可提供更多元、更穩定、更友善的操作分析介面,日本市場佔有率NO.1。
    熱分析進入新階段―可提供即時觀察樣品變化。
    可搭配 FTIR   XRD。
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    光電產業、電池產業應用

    波長分散式 X 射線螢光光譜儀(WD-XRF)

    波長分散式 X 射線螢光光譜儀(WD-XRF)


     
    產品說明

     

    X射線螢光分析儀(X-ray fluorescence,XRF)是利用X射線照射在分析物質上來進行元素定性和定量的分析技術,此測試方式具有快速、非接觸、非破壞性及多元素分析等特點,無須樣品前處理,無須液態氮充填等運行成本產生,可快速分析檢測樣本,具有多種類型XRF可廣泛應用於各個領之域中。

    WDXRF(波長分散式XRF)儀器具有非常好的能量解析度,可以得到較少的光譜重疊干擾和改善背景的強度,元素偵測範圍從 Be(鈹) ~U(鈾),濃度範圍從低parts-per-million (ppm)至高weight percent (wt%)。