化工與石油產業

Eyecon2 Inline線上影像粒徑分析儀



產品說明

InnoPharma Eyecon2 是一款專為「製程分析技術」(PAT) 設計的即時影像分析儀，主要應用於製藥、化工及食品產業中，針對粉體與固體顆粒的粒徑分布 (PSD) 與形狀進行非接觸式監控。 
 

應用範圍



製藥製程監控 (Pharmaceutical Manufacturing)
Eyecon2 在藥品研發與量產階段能大幅提升數據透明度，減少批次失敗風險。 


流體床造粒與塗層 (Fluid Bed Granulation & Coating)： 即時監控顆粒造粒過程，精準掌握噴霧造粒的終點，確保產品溶離度一致。
乾式造粒 (Roller Compaction)： 監控造粒後的顆粒大小，確保後續打錠或充填的流動性與劑量準確性。
研磨與粉碎 (Milling)： 監控粉碎過程中的粒徑縮小速度，防止過度研磨導致的藥物活性受損。
混合穩定性分析： 確保多種粉體混合後的均一性，避免分層現象。 



化學與材料工程 (Chemical & Material Science)
針對高價值化學品與精細材料，Eyecon2 提供自動化的品質管控方案。 


結晶過程監控 (Crystallisation Control)： 實時觀察晶體生長與形狀變化，調整參數以控制晶型（Polymorph）的穩定性。
聚合物顆粒分析： 監控聚合物生產過程中的顆粒成型，確保物理特徵符合下游加工需求。
特殊塗料與墨水粉體： 確保顏料或特殊功能粉末的粒徑符合光學或塗佈性能指標。 



食品加工與開發 (Food Industry)


噴霧乾燥監控： 在奶粉、即溶咖啡或香料的噴霧乾燥過程中，即時調整風速與噴嘴參數，控制粉末細度與溶解性。
口感與感官品質控管： 針對需要特定顆粒感的食品（如調味料、糖果內餡），透過精確的粒徑控制確保口感穩定。 



自動化管理與合規應用


降低 OOS 調查成本： 透過每 5 秒更新一次的即時數據，能在數據偏離趨勢時即時介入，從根源降低「超標 (OOS)」發生率，避免昂貴的複驗與行政調查。
數據完整性 (Data Integrity)： 軟體 EyePASS 符合 FDA 21 CFR Part 11 規範，所有檢測與操作皆有審計追蹤 (Audit Trail)，支援數位轉型與智慧工廠 (Pharma 4.0) 的布建。

微波水分分析儀



產品介紹

TEWS水分含量測定儀採用微波共振原理進行水分含量分析，具備快速、準確且高度穩定的量測特性。一秒內即可完成數千次分析，具備高度專一性，不受樣品中有機揮發物影響，確保量測結果的準確性。

本系列產品不受產品流量或厚度變化影響，並採用非破壞性檢測方式，對樣品本身無任何影響，檢測後可回收再使用。同時可進行樣品外層與核心水分含量的同步分析。

此外，量測結果不受添加物（如鹽類、礦物質、糖類）、表面型態、顆粒大小、密度或樣品顏色等因素干擾，且無需前處理，不使用任何消耗性試劑或耗材。

儀器具備高度穩定性與良好維護性，可快速協助客戶進行跨工廠的方法轉移。產品型式齊全，提供桌上型、線上型及手持式多種選擇，滿足不同應用需求。


應用範圍

波長分散式 X 射線螢光光譜儀(WD-XRF)


 
產品說明

 

X射線螢光分析儀(X-ray fluorescence,XRF)是利用X射線照射在分析物質上來進行元素定性和定量的分析技術，此測試方式具有快速、非接觸、非破壞性及多元素分析等特點，無須樣品前處理，無須液態氮充填等運行成本產生，可快速分析檢測樣本，具有多種類型XRF可廣泛應用於各個領之域中。

WDXRF(波長分散式XRF)儀器具有非常好的能量解析度，可以得到較少的光譜重疊干擾和改善背景的強度，元素偵測範圍從 Be(鈹) ~U(鈾)，濃度範圍從低parts-per-million (ppm)至高weight percent (wt%)。

能量分散式 X 射線螢光光譜儀(ED-XRF)


 
產品說明

X射線螢光分析儀(X-ray fluorescence,XRF)是利用X射線照射在分析物質上來進行元素定性和定量的分析技術，此測試方式具有快速、非接觸、非破壞性及多元素分析等特點，無須樣品前處理，無須液態氮充填等運行成本，可快速分析檢測樣本，具有多種類型XRF可廣泛應用於各個領之域中。

能量分散式X射線螢光分析儀(EDXRF)廣範地應用在多樣化樣品的定量與半定量元素分析技術上。元素偵測範圍從 Na(鈉) ~U(鈾)，濃度範圍從低parts-per-million (ppm)至高weight percent (wt%)。