紡織

  1. 原物料成分分析
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    CT  電腦斷層掃描

     CT  電腦斷層掃描



    產品說明

    Rigak CT Scan 電腦斷層掃描儀可分為桌上型及落地型兩種。桌上型安裝容易，且場地要求少。落地型則擁有更強大的穿透力與更寬廣的掃描空間，專門針對高密度材料、大型零件及失效分析所設計。其可應用於工業與先端製造、材料科學研究、能源與地質應用。

    應用範疇


    結構判別、成分分布
    尺寸量測，包含個數計算、體積、面積、周長、長寬比和方
    缺陷分析，例如孔隙率、異物率
    自動統計及分佈圖表
    組裝分析、壁厚分析、材料分析
    逆向工程、CAD 對比
    特徵篩選、三維個體定位、模型模擬
    二維/三維可視化、分析材料表徵
    結果透過電子表格工具和圖表顯示呈現



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    熱分析儀 TA Thermo plus EVO2

    熱分析儀 TA Thermo plus EVO2



    產品說明

    Rigaku TA 提供各式熱分析儀器已超過10,000台銷售紀錄，擁有熱分析專業技術團隊支援。
    Thermo plus EVO2 系列可提供更多元、更穩定、更友善的操作分析介面，日本市場佔有率NO.1。
    熱分析進入新階段―可提供即時觀察樣品變化。
    可搭配 FTIR   XRD。
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    紡織

    波長分散式 X 射線螢光光譜儀(WD-XRF)

    波長分散式 X 射線螢光光譜儀(WD-XRF)


     
    產品說明

     

    X射線螢光分析儀(X-ray fluorescence,XRF)是利用X射線照射在分析物質上來進行元素定性和定量的分析技術，此測試方式具有快速、非接觸、非破壞性及多元素分析等特點，無須樣品前處理，無須液態氮充填等運行成本產生，可快速分析檢測樣本，具有多種類型XRF可廣泛應用於各個領之域中。

    WDXRF(波長分散式XRF)儀器具有非常好的能量解析度，可以得到較少的光譜重疊干擾和改善背景的強度，元素偵測範圍從 Be(鈹) ~U(鈾)，濃度範圍從低parts-per-million (ppm)至高weight percent (wt%)。
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    紡織

    能量分散式 X 射線螢光光譜儀(ED-XRF)

    能量分散式 X 射線螢光光譜儀(ED-XRF)


     
    產品說明

    X射線螢光分析儀(X-ray fluorescence,XRF)是利用X射線照射在分析物質上來進行元素定性和定量的分析技術，此測試方式具有快速、非接觸、非破壞性及多元素分析等特點，無須樣品前處理，無須液態氮充填等運行成本，可快速分析檢測樣本，具有多種類型XRF可廣泛應用於各個領之域中。

    能量分散式X射線螢光分析儀(EDXRF)廣範地應用在多樣化樣品的定量與半定量元素分析技術上。元素偵測範圍從 Na(鈉) ~U(鈾)，濃度範圍從低parts-per-million (ppm)至高weight percent (wt%)。
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    微波水分分析儀

    微波水分分析儀



    產品介紹

    TEWS水分含量測定儀採用微波共振原理進行水分含量分析，具備快速、準確且高度穩定的量測特性。一秒內即可完成數千次分析，具備高度專一性，不受樣品中有機揮發物影響，確保量測結果的準確性。

    本系列產品不受產品流量或厚度變化影響，並採用非破壞性檢測方式，對樣品本身無任何影響，檢測後可回收再使用。同時可進行樣品外層與核心水分含量的同步分析。

    此外，量測結果不受添加物（如鹽類、礦物質、糖類）、表面型態、顆粒大小、密度或樣品顏色等因素干擾，且無需前處理，不使用任何消耗性試劑或耗材。

    儀器具備高度穩定性與良好維護性，可快速協助客戶進行跨工廠的方法轉移。產品型式齊全，提供桌上型、線上型及手持式多種選擇，滿足不同應用需求。


    應用範圍
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