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2024年冬季第40卷第1期
為了滿足客戶的需求，Rigaku ZSX Primus 系列的波長分散式X射線螢光分析儀包含高端管ZSX Primus IV,高端管底座ZSX Primus IVi以及用於大樣品XRF分析的ZSX Primus400。
Rigaku開發了了一款新的光譜儀 ZSX Primus III NEX，作為ZSX Primus III+的後代機型，配備了管狀光學系統。與前代基型相比，該光譜儀在硬件和軟件性能、功能以及日常分析支持能力方面均有顯著提升。
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波長分散式 X 射線螢光光譜儀- ZSX Primus III NEXT
2024年冬季第40卷第1期
介紹
X射線螢光分析是一種元素分析方法，只需簡單的樣品製備，即可快速且非破壞地分析樣品中的元素。另外，由於其測量結果具有良好的重複性，該方法在鋼鐵、水泥、耐火材料等材料的製程控制和品質種控制分析中，得到了懬泛的應用。為了滿足客戶的需求，Rigaku ZSX Primus 系列的波長分散式X射線螢光分析儀包含高端管ZSX Primus IV,高端管底座ZSX Primus IVi以及用於大樣品XRF分析的ZSX Primus400。
Rigaku開發了了一款新的光譜儀 ZSX Primus III NEX，作為ZSX Primus III+的後代機型，配備了管狀光學系統。與前代基型相比，該光譜儀在硬件和軟件性能、功能以及日常分析支持能力方面均有顯著提升。
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