利用能量分散式X射線螢光分析儀進行外來物質分析
2019年冬季第35卷第1期
作為一種便捷且快速的元素分析技術，X射線螢光光譜法被廣泛應用在許多工業領域。值得注意的的是，能量分散式X射線螢光分析儀(EDX)由於其系統配置不需要分散元件和測角儀，因此提供微型化的可能性。此外，由於其能夠同時分析多種元素，這些光譜儀在需要快速分析未知樣品成分時，尤其顯示出其優越性。其中一個最好的例子，就是分析產品中的外來物質。
近年來，消費者的安全意識不斷提高。如果產品在發貨後被發現含有外來物質，製造商將被要求迅速準確地對這些外來物質進行分析，並確定汙染途徑。雖然有許多種技術可用於分析此類外來物質，但EDX分析儀在便攜性和速度方面表現突出，並且被認為是最適合這類分析。
本報告將描述使用NEX DE能量分散式X射線螢光分析儀，進行外來物質分析所涉及的方法，並介紹幾個具體案例。
近年來，消費者的安全意識不斷提高。如果產品在發貨後被發現含有外來物質，製造商將被要求迅速準確地對這些外來物質進行分析，並確定汙染途徑。雖然有許多種技術可用於分析此類外來物質，但EDX分析儀在便攜性和速度方面表現突出，並且被認為是最適合這類分析。
本報告將描述使用NEX DE能量分散式X射線螢光分析儀，進行外來物質分析所涉及的方法，並介紹幾個具體案例。
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