產品介紹
X射線螢光分析儀(XRF)
能量分散式(ED-XRF)

NEX CG II Series

Product details

RIGAKU NEX CG II Series

全新推出 新一代NEX CG II Series提供更靈敏偵測極限能力

產品說明

Rigaku NEX CG II Series是能量分散式X射線螢光光譜儀(EDXRF)，廣範地應用在多樣化樣品的定量與半定量元素分析，濃度範圍從ppm至wt%。

​RPF-SQX理論定量軟體， Rigaku在軟體中利用此項技術，使其在幾乎所有類型的樣品中皆能夠進行半定量分析，此外也能夠在有標準品時進行精確的定量分析。軟體中亦運用Rigaku著名的分散基礎參數(fundamental parameter, FP)法，能夠自動估算未觀察的低原子序元素(H to F)的濃度，並給予適當的修正。藉由一個給定標準的校正擬合，相較於一般的EDXRF分析軟體，RPF-SQX 大量減少了標準品需求的數量，因此在標準品價格昂貴又難以取得的情況之下，RPF-SQX 更是能降低持有成本，並減少例行的工作量。

Rigaku NEX CG II Series搭載獨特的緊密耦合解析幾何光學核心(close-coupled Cartesian Geometry optical kernel)，能夠顯著地提高訊噪比(S/N)，並採用透過二次靶材而非直接以光源激發，與以往相比，在敏感度上有更進一步的改善，因此可分析元素涵蓋範圍更完整(Na-U)。


產品特點

  • 非破壞性分析11Na~92U
  • 適用於固狀、液狀、粉末與薄膜樣品
  • 以極化光源激發,降低偵測極限
  • 不須標準品即可進行半定量分析
  • 以RPFSQX降低標準品需求
  • 新的譜峰重疊處理方式減少干擾誤差
  • 以EZ Analysis 簡化操作介面
  • NEXCGII+ 搭載  100 W高功率、65 kV高電壓X光管設計

 

應用範圍

  • 硫(S)於柴油、汽油、石油、船用燃料或其他石油分餾物中的檢測
  • 硫(S)、氯(Cl)、鈣(Ca)於廢油中的檢測
  • 紙張與薄膜上矽膠塗層的檢測
  • 轉化塗層的檢測
  • 鈦(Ti)、鐵(Fe)、鋅(Zn)、硒(Se)、鋁(Al)、矽(Si)、氯(Cl)、鋯(Zr)於化妝品和身體護理產品中的檢測
  • 鋅(Zn)、鈦(Ti)、鈣(Ca)、鐵(Fe)、銻(Sb)、溴(Br)、磷(P)於塑料中的檢測
  • RoHS檢測、無鹵分析管控、貴金屬回收Pt, Rh, Pd, Au, Ag等應用
  • 塑膠製程Cl, Mg, Si, S, Ca, Ti, Mo, Sn在PVC樹酯
  • 污水環境污染分析、水泥分析、採礦分析(Ni, Na2O, Au, Fe, Ca)
  • 電子材料鍍層、半導體產業   油品分析低硫管控符合ASTM D7220、ASTM D4294、IP 532、EN ISO 8754、EN ISO 20847


參考影片

 
 
 
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