產品介紹
X射線螢光分析儀(XRF)波長分散式(WD-XRF)
Product details

高功率WDXRF微區分析、薄膜分析

產品特點:
1. 非破壞性分析4Be~92U
2. 適用於固狀、液狀、粉末與薄膜樣品
3. 以極化光源激發,降低偵測極限
4. 不需標準品即可進行半定量分析
5. 以RPF-SQX降低標準品需求
6. 新的譜峰重疊處理方式減少干擾誤差

7. 以EZ Analysis簡化操作介面
產品應用範圍:
1. 石油產品和潤滑劑中的硫16S 和其他元素分析
2. 原始材料中的主量和次量氧化物分析
3. 食品和化學產品中的主量和微量元素以及污染物
4. 電子和磁性材料、化學工業、陶瓷及水泥工業
5. 鋼鐵工業、冶金、金屬工業
6. 地質礦產(石灰石、礦沙、鋁土礦、礦渣)
7. 塑膠以及高分子材料分析

8. 微區分析、薄膜分析