產品說明: 研究型高階掃描式WDXRF 元素分析儀 高功率WDXRF微區分析、薄膜分析 產品特點: 1. 非破壞性分析4Be~92U 2. 適用於固狀、液狀、粉末與薄膜樣品 3. 以極化光源激發,降低偵測極限 4. 不需標準品即可進行半定量分析 5. 以RPF-SQX降低標準品需求 6. 新的譜峰重疊處理方式減少干擾誤差 7. 以EZ Analysis簡化操作介面 產品應用範圍: 1. 石油產品和潤滑劑中的硫16S 和其他元素分析 2. 原始材料中的主量和次量氧化物分析 3. 食品和化學產品中的主量和微量元素以及污染物 4. 電子和磁性材料、化學工業、陶瓷及水泥工業 5. 鋼鐵工業、冶金、金屬工業 6. 地質礦產(石灰石、礦沙、鋁土礦、礦渣) 7. 塑膠以及高分子材料分析 8. 微區分析、薄膜分析